WKL-702颗粒图像分析仪

测量范围：0.1～3000（微米）
总放大倍数：8000倍
最大分辨率：0.1微米/像素
重复性：误差≤±1％

产品介绍

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。

1、图像多种处理方法：影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。